Electron and Optical Microscopy
KeyLab Koordinatoren:
Prof. Dr. Hans-Werner Schmidt
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-3200
E-Mail: hans-werner.schmidt@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Makromolekulare Chemie I
Prof. Dr. Josef Breu
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-2530
E-Mail: josef.breu@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Anorganische Chemie I
Prof. Dr. Jürgen Köhler
Optische Mikroskopie (OM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-4000
E-Mail: juergen.koehler@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl für Spektroskopie weicher Materie
KeyLab Wissenschaftler:
Dr. Ulrich Mansfeld (REM, TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-4432
E-Mail: ulrich.mansfeld@uni-bayreuth.de
Dr. Markus Drechsler (TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-3188
E-Mail: markus.drechsler@uni-bayreuth.de
Dr. Lisa Günther (OM)
Telefon: +49 (0)921) / 55-4040
E-Mail: lisa.guenther@uni-bayreuth.de
Optische Mikroskopie (OM)
Fluoreszenz- und Fluoreszenzlebensdauer-Mikroskop (FLIM) PicoQuant MicroTime 200
- Kernelement: invertiertes Forschungsmikroskop der Fa. Olympus mit 4 Objektiven
- Konfokaleinheit und piezogesteuerter Probentisch für tiefenaufgelöste Messungen
- Anregungslichtquellen: 4 Diodenlaser bei 405, 485, 561 und 640 nm (gepulster und Dauerstrichbetrieb möglich)
- Zwei schnelle Detektoren: ein APD-Modul mit Einzelphotonenempfindlichkeit (SPAD) und ein PMA-Hybriddetektor mit 45% Quantenausbeute für zeitaufgelöste Messungen
- Fluoreszenz-Spektrometer mit thermoelektrisch gekühlter EMCCD-Kamera
- Einzelmolekülempfindlichkeit
- Software für Fluoreszenzlebensdauer-Abbildungen (FLIM), FLIM-FRET und Fluoreszenz-Korrelationsspektroskopie
Standard Microscope Olympus BX 60
Optisches Mikroskop für Standard-Anwendungen; Beleuchtung mit polarisiertem Durch- und Auflicht
Korrelationsmikroskop Zeiss Axio Imager A2m
Exakte Bestimmung der Probenkoordinaten für detaillierte Untersuchungen in einem Elektronenmikroskop Zeiss Ultra Plus 55
Fluoreszenzmikroskop Leica DMR
Vielseitiges Fluoreszenzmikroskop mit Möglichkeit der Anregung und Detektion in mehreren Spektralbereichen; Spektrometer-Einheit
Invertiertes Polarisationsmikroskop Nikon Eclipse Ti-S
Invertiertes Polarisationsmikroskop mit Beleuchtung in Durch- und Auflicht; Amici-Bertrand-Linse für konoskopische Untersuchungen an Kristallen
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Mikroskope
Zeiss CEM902 (TEM I)
Energiefilterndes Transmissionselektronenmikroskop (EFTEM), Hochspannung 50kV oder 80kV, thermische Wolframkathode, Incolumn Henry-Castaing Energiefilter, CCD Kamera (Gatan Orius) mit Digital Micrograph Software.
Zeiss / LEO EM922 Omega (TEM II)
Energiefilterndes Transmissionselektronenmikroskop (EFTEM), Hochspannung (120kV, 160kV, 200kV), thermische LaB6 Kathode, magnetisches Incolumn Energiefilter vom Omega Typ, CCD Kamera (Gatan Ultrascan 1000) mit Digital Micrograph Software
JEOL JEM-2200FS (TEM III)
Energiefilterndes Transmissionselektronenmikroskop (EFTEM), Hochspannung (160kV, 200kV), Schottky Feldemissionskathode, magnetisches Incolumn Energiefilter vom Omega Typ, CMOS Kamera (Gatan OneView) mit Digital Micrograph Software
Präparation
Leica Ultramikrotom UC7+FC7
Ultramikrotom zur Herstellung dünner Schnitte fester Proben bei Raumtemperatur mithilfe von Glas- u. Diamantmessern. Bei Verwendung der Kryokammer können auch zuvor gefrierfixierte flüssige oder halbfeste Proben bei tiefen Temperaturen geschnitten werden.
Reichert-Jung Ultramikrotom E+FC4
Ultramikrotom zur Herstellung dünner Schnitte fester Proben bei Raumtemperatur mithilfe von Glas- u. Diamantmessern. Bei Verwendung der Kryokammer können auch zuvor gefrierfixierte flüssige oder halbfeste Proben bei tiefen Temperaturen geschnitten werden.
Jeol Cryo Ion Slicer
Gatan Solarus Model 950
Plasma Cleaner zum Entfernen von adsorbierten Kohlenwasserstoffen auf Proben- und TEM Halteroberflächen, Hydrophilisieren von Oberflächen.
Plasma Beglimmapparatur (Eigenbau – Biozentrum Basel)
Plasma Cleaner zum Entfernen von adsorbierten Kohlenwasserstoffen auf Probeoberflächen, Hydrophilisieren von Oberflächen
Bal-Tec Propanjet JFD030
Kryofixierungsanlage zum Einfrieren wässriger flüssiger und halbfester Proben mittels eines tiefgekühlten flüssigen Propanjets.
Kryofixierungsanlage (Eigenbau auf Zeiss Cryobox Basis)
Kryofixierungsanlage zum Einfrieren flüssiger wässriger Proben in flüssigem Ethan und von Proben in organischen Lösungsmitteln in flüssigem Stickstoff. Für Proben, die unter kontrollierten Umweltbedingungen (Temperatur, Luftfeuchtigkeit) eingefroren werden sollen, kann eine Umweltkammer verwendet werden.
Leica Kryofixierungsanlage EMGP
Kryofixierungsanlage zum Einfrieren flüssiger wässriger Proben in flüssigem Ethan mit einstellbaren Umweltbedingungen (Temperatur, Luftfeuchtigkeit).
Bal-Tec Gefrierbruchanlage BAF400T
Bedampfungsanlage zur Herstellung von Pt oder Pt/Ir Schwermetallabdrücken (Replicae) innerer Oberflächen nach Gefrierbruch von zuvor gefrierfixierten flüssigen und halbfesten wässrigen Proben.
Bal-Tec Gefrierbruchanlage BAF060
Bedampfungsanlage zur Herstellung von Pt oder Pt/Ir Schwermetallabdrücken (Replicae) innerer Oberflächen nach Gefrierbruch von zuvor gefrierfixierten flüssigen und halbfesten wässrigen Proben.
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Mikroskope
Zeiss Leo 1530 (REM I)
Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit Inlens-SE-Detektor, Kammer-SE-Detektor (Everhart Thornley), BSE-Detektor (Centaurus), Minicathodoluminiszenz-Detektor (Oxford) und UltraDry-EDX-Detektor (Thermo Fisher Scientific NS7).
Ausgerüstet für Elektronenstrahllithographie und korrelative Mikroskopie.
Zeiss Ultra plus (REM II)
Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit 80 mm Probenschleuse, Inlens SE-Detektor, Kammer-SE-Detektor (Everhart Thornley), Inlens EsB-Detektor (energy-selectiv backscattered electrons), AsB-Detektor (angle selectiv backscattered electrons) und STEM-Detektor, sowie UltraDry-EDX-Detektor (30mm²) (Thermo Fisher Scientific NS7) und Magna Ray WDX-Spektrometer (Thermo Fisher Scientific NS7).
Ausgerüstet mit Leica Cryopräparations-Transfereinheit VCT 100 und für korr. Mikroskopie.
FEI Quanta FEG 250 (REM III)
Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit ET-Detektor, CBS, ICD und STEM für HighVakuum, sowie LFD, GAD und GSED für LowVakuum, ESEM- oder WET-STEM-Messungen. Außerdem UltraDry-EDX-Detektor (100mm²) (Thermo Fisher Scientific NS7).
Präparation
Cressington Platin-Sputter Coater 208HR
Leica EM ACE 600 Kohlebedampfungsanlage
Leica MED 020 Cryo-Bruch- und Sputtereinheit
Leica EM HPM 100 Hochdrücker
Leica EM TXP Zielpräzisionsinstrument
Das KeyLab Electron and Optical Microscopy besteht aus drei Einheiten, der Rasterelektronenmikroskopie (Koordination: Prof. Hans-Werner Schmidt), der Transmissionselektronenmikroskopie (Koordination: Prof. Josef Breu) und der optischen Mikroskopie (Koordination: Prof. Jürgen Köhler).
Das KeyLab Electron and Optical Microscopy bündelt die wissenschaftliche Expertise aus komplementären Gebieten moderner Mikroskopietechniken. Für Struktur- und Morphologieuntersuchungen stehen mehrere hochauflösende Raster- und Transmissionselektronenmikroskope mit Cryo-Einheiten zur Verfügung. Daneben verfügt das Labor über verschiedene optische Mikroskope, z.B. für ortsaufgelöste Fluoreszenz-, Raman-Spektroskopie und Korrelative Mikroskopie. Modernste Methoden der Probenvorbereitung insbesondere für flüssige Proben, Gele und Polymere stehen zur Verfügung.
KeyLab Koordinatoren:
Prof. Dr. Hans-Werner Schmidt (REM), Prof. Dr. Josef Breu (TEM), Prof. Dr. Jürgen Köhler (OM)
KeyLab Wissenschaftler:
Dr. Ulrich Mansfeld (REM, TEM)
- CV und Publikationen
Dr. Markus Drechsler (TEM)
Dr. Lisa Günther (OM)
KeyLab-Flyer:
Nutzungsordnung:
Angehörige der Universität Bayreuth finden im Intranet die aktuelle Nutzungsordnung mit Nutzungsgebühren, den Nutzungsantrag und weitere Informationen zur Buchung und Verwaltung von Messterminen:
Nicht-Angehörige der Universität Bayreuth können über die jeweiligen KeyLab Koordinatoren oder KeyLab-Wissenschaftler die Nutzungsordnung erhalten.